新一代 CST520 陣列電極電化學掃描系統由陣列電極擴展模組 與 電化學測試模組兩部分組成，不僅可量測任一單電極的電極電位與短路原電池電流，也能量測每一根單電極的交流阻抗與極化曲線資料，極大地提升了材料耐蝕性評估的手段與深度。
1.陣列電極簡介
陣列電極量測是將彼此絕緣的金屬絲以有序且緊密的方式排列，用來模擬整個金屬表面的多電極技術。透過循環掃描陣列電極表面的電位與電流分佈，可用於表徵裸露金屬或塗層下金屬表面的局部腐蝕分布特性，以及非均勻電化學溶解過程。
CST520 陣列電極電化學掃描系統可精準量測任一單電極的電極電位與短路原電池電流，且不需擔心外加極化會破壞微區腐蝕環境，因此特別適合用於金屬在非擾動狀態下的自發腐蝕行為研究。
2.工作原理
新一代 CST520 陣列電極電化學掃描系統由 陣列電極擴展模組 與 電化學測試模組 兩部分組成。不僅能量測任一單電極的電極電位與短路原電池電流，也能測量每一根單電極的交流阻抗及極化曲線資料，極大地提升材料耐蝕性的評估手段。
陣列電極擴展模組主要由 RS485 通訊電路、IO 擴展電路、10×10 繼電器矩陣電路、MCU 電路 等組成。
系統預留兩組擴展板卡介面，最多可支援 300 通道陣列電極切換，切換速度最高可達 100 Hz。標準版本配置 100 通道。陣列電極透過兩組 DB50 介面輸入，電化學工作站與本儀器之間透過 DB9 連接器連接，並使用 RS485 通訊，通訊速率為 115200 bps。
電化學測試模組除了用於陣列電極的量測外，亦可作為獨立的電化學工作站使用，具備完整的腐蝕測試功能，包括：開路電位（OCP）、極化曲線（Tafel）、線性極化（LPR）、交流阻抗（EIS）、Mott–Schottky 曲線（M-S）、電化學噪聲（EN），功能完整。
3.電位與電流掃描圖
CST520 陣列電極電化學掃描系統可執行 電位與電流的循環面掃描，或 單電極電位與電流的時間掃描。系統可即時顯示陣列電極表面的電位與電流分佈圖，並可匯出至 Origin 以三維圖形方式呈現陣列電極表面的電位與電流分布狀態。
如圖 2 所示：圖 2 左為電位分佈圖，圖 2 右為電流分佈圖。可觀察到 WBE 電極表面有三個區域呈現較負的電位，並且在電流分佈圖中，相同位置亦出現負電流。負電流代表陽極電流，說明電極表面這三個區域發生了更加嚴重的腐蝕反應。
絲束電極測試：
電化學腐蝕測試：
開路電位（OCP）測試
動電位掃描
恆電位測試
恆電流測試
電化學阻抗 — 電位控制模式（EIS-V）
電化學阻抗 — 電位掃描（M-S 曲線）
電化學噪聲（EN）
動電位再活化（EPR）
循環極化曲線（CPP）
溶液電阻測試（IR）
線性極化曲線（LPR）
