全浮地式設計，具有出色的穩定性和精確度，性價比高，具備所有基礎電化學以及阻抗測試功能。
- 新增IR補償功能、恆流阻抗測試技術
- 包含基礎功能與阻抗模組，滿足大部分研究領域需求
- 全浮地模式，性價比高
- 電壓控制範圍：±10V，槽壓為±21V（可選30V）
- 電流控制範圍：±2A（可擴展至20A／40A／100A）
- 電位解析度：1μV，電流解析度：1pA（可選100fA）
產品介紹
CS電化學工作站採用全浮地式設計，具有出色的穩定性與精確度，搭配先進的硬體與功能完善的軟體，為能源、材料、生命科學、環保等領域的科研人員提供優異的研究平台。
應用領域
- 能源材料（如鋰離子電池、太陽能電池、燃料電池與超級電容器等）、先進功能性材料及感測器的性能研究。
- 電化學分析相關研究。
- 電合成、電沉積（電鍍）、陽極氧化與電解等反應機制之研究。
- 金屬材料的腐蝕行為研究與耐蝕性評估。
- 緩蝕劑、水質穩定劑、塗層及陰極保護效果之快速評估。
硬體特點
- 雙通道相關分析器與雙通道高速 16-bit / 高精度 24-bit AD 轉換器
- 內建 FRA 頻率響應分析儀，頻率範圍 10μHz ～ 1MHz
- 高頻寬、高輸入阻抗放大器
- 內建 FPGA DDS 訊號合成器
- 高功率恆電位儀 / 恆電流儀 / 零電阻電流計
- 電壓控制範圍：±10V，槽壓 ±21V（可選配至 30V）
- 電流控制範圍：±2A（可擴充至 20A / 40A / 100A）
- 電位解析度：1μV，電流解析度：1pA（可選配至 100fA）
軟體特點
- 資料分析
可對伏安曲線進行平滑、積分與微分運算，計算各氧化還原峰之峰電流、峰電位與峰面積等；可對極化曲線進行三參數或四參數動力學解析，計算 Tafel 斜率 ba、bc、腐蝕電流密度 icorr、極限擴散電流、極化電阻 Rp 及腐蝕速率等；亦可由電化學噪聲譜計算功率譜密度、噪聲電阻 Rn 與譜噪聲電阻 Rsn(f)。 - 即時儲存
CS Studio 可即時儲存測量資料，即使測試過程中因斷電而中斷，先前量測的資料也會自動保存，不會遺失。 - 定時測量
CS Studio 測試軟體具備定時量測功能，對於需觀察系統隨時間變化特性之實驗，可預先設定測試參數與間隔時間，讓儀器於無人值守情況下自動定時量測，為實驗提供極大便利。
技術優勢
① 交流阻抗
儀器採用相關積分演算法與雙通道同步過取樣技術，具備強大的抗干擾能力，特別適用於塗層、混凝土等高阻體系（>10⁹Ω）之交流阻抗量測，也可用於繪製 Mott-Schottky 曲線與微分電容曲線。軟體可即時顯示開路電位，使用者無需手動輸入，即可自動輸出精確之極化過電位。具備恆流阻抗測試功能，特別適用於 18650、軟包電池等超低阻能量儲存元件之交流阻抗量測。
② 極化曲線
具備線性極化與 Tafel 極化曲線測試功能，使用者可設定循環極化曲線之陽極回掃電流（鈍化膜擊穿電流），以確定材料之點蝕電位與保護電位，並評估晶間腐蝕敏感性。軟體採用非線性擬合演算法解析極化曲線，可用於材料耐蝕性與緩蝕劑效能之快速評估。
③ 伏安分析
可執行線性掃描伏安（LSV）、循環伏安（CV）等電化學分析方法，並整合峰面積、峰電流計算與標準曲線分析功能。
④ 電化學噪聲
採用高阻隨耦器與零阻電流計，量測腐蝕體系中自發產生之電位與電流波動，可用於點蝕、電偶腐蝕、縫隙腐蝕及應力腐蝕開裂等局部腐蝕研究。透過噪聲譜分析，可評估亞穩態蝕點或裂紋之誘發、成長與消失過程。根據噪聲電阻與點蝕指數之計算結果，亦可用於局部腐蝕之監測與評估。
⑤ 全浮地量測
CS系列電化學工作站採用全浮地式工作電極，可用於工作電極本身接地之體系的電化學研究，如用於高壓釜電化學測試（釜體接地）、大地中金屬構件（橋樑、混凝土鋼筋）的線上腐蝕研究等。
⑥ 正回授IR補償
啟動IR補償後，電化學工作站會增加一個額外的類比回授路徑，透過量測電解池電流啟用正回授補償，由硬體電路增加回授訊號，自動對Rs上的壓降進行補償。
⑦ 自訂方法
支援使用者自訂組合量測，可設定定時循環進行某一測試方法或多種方法之組合測試，用於無人值守下的定時自動量測；
提供API通用介面函式與開發範例，方便使用者二次開發與自訂測試方法；提供使用者自訂腳本撰寫範例，用於實現您獨特的電化學實驗技術。
技術指標
| 項目 | 規格 |
|---|---|
| 恆電位控制範圍 | ±10V |
| 恆電流控制範圍 | ±2A（可擴展至 20A／40A／100A） |
| 電位控制精度 | 0.1% |
| 電流控制精度 | 0.1% |
| 電位靈敏度 | 1μV |
| 電流靈敏度 | 1pA（可選 100fA） |
| 電位上升時間 | 1μs |
| 電流量程 | 2nA～2A，10 檔 |
| 參比電極輸入阻抗 | 1013Ω‖8pF |
| 最大輸出電流 | ±2A（可擴展至 20A／40A／100A） |
| 槽壓輸出 | ±21V（可選 30V） |
| 電流掃描增量 | 1mA @1A/ms |
| CV 和 LSV 掃描速度 | 0.001mV～10000V/s |
| 電位掃描電位增量 | 0.076mV @1V/ms |
| CA 和 CC 脈衝寬度 | 0.0001～65000s |
| DPV 和 NPV 脈衝寬度 | 0.0001～1000s |
| SWV 頻率 | 0.001～100KHz |
| CV 的最小電位增量 | 0.020mV |
| AD 資料獲取 | 16bit@1MHz，20bit@1KHz |
| 電流與電位量程 | 自動設置 |
| DA 解析度 | 16bit，建立時間 1μs |
| 低通濾波器 | 8 段可程式設計 |
| 通訊介面 | USB2.0、RJ45 網口 |
| 儀器重量 | 7.6Kg |
| 外形尺寸（mm） | 365(W) × 338(D) × 140(H) |
電化學阻抗量測指標
| 項目 | 規格 |
|---|---|
| 信號發生器 | |
| 頻率回應 | 10μHz～1MHz |
| 交流信號幅值 | 0mV～2500mV |
| 頻率精確度 | 0.005% |
| 信號解析度 | 0.1mV RMS |
| DDS 輸出阻抗 | 50Ω |
| 直流偏壓 | −10V～+10V |
| 正弦波失真率 | <1% |
| 波形 | 正弦波、三角波、方波 |
| 掃描方式 | 對數／線性，增加／下降 |
| 信號分析器 | |
| 最大積分時間 | 106 個迴圈或者 105s |
| 測量時間延遲 | 0～105s |
| 最小積分時間 | 10ms 或者一個迴圈的最長時間 |
| 直流偏置補償 | |
| 電位補償範圍 | −10V～+10V |
| 電流補償範圍 | −1A～+1A |
| 頻寬調整 | 自動或手動設置，共 8 級可調 |
儀器配置
- 儀器主機 1 台
- CS Studio 測試與分析軟體 1 套
- 模擬電解池 1 個
- 電源線 / USB 傳輸線 各 1 條
- 電極連接線 1 條
- 電腦（選配*）
功能方法
CS310M 支援 56 項電化學方法中的 37 項:涵蓋基礎伏安、極化曲線與交流阻抗(EIS),不含脈衝伏安與溶出伏安等痕量分析方法;需要痕量分析請選 CS350M(支援全部 56 項),需要基礎方法但不需 EIS 可考慮 CS300M。
| 分類 | 功能方法 | CS300M | CS310M | CS350M |
|---|---|---|---|---|
| 穩態極化 | 開路電位（OCP） | ● | ● | ● |
| 恆電位極化（i-t 曲線） | ● | ● | ● | |
| 恆電流極化 | ● | ● | ● | |
| 動電位掃描（Tafel 曲線） | ● | ● | ● | |
| 動電流掃描（DGP） | ● | ● | ● | |
| 電位掃描-階躍 | ● | |||
| 暫態極化 | 任意恆電位階梯波 | ● | ● | ● |
| 任意恆電流階梯波 | ● | ● | ● | |
| 恆電位階躍（VSTEP） | ● | ● | ● | |
| 恆電流階躍（ISTEP） | ● | ● | ● | |
| 計時分析 | 計時電位法（CP） | ● | ● | ● |
| 計時電流法（CA） | ● | ● | ● | |
| 計時庫倫法（CC） | ● | ● | ● | |
| 伏安分析 | 線性掃描伏安（LSV） | ● | ● | ● |
| 迴圈伏安（CV） | ● | ● | ● | |
| 階梯迴圈伏安（SCV） | ● | ● | ||
| 方波伏安（SWV） | ● | ● | ||
| 差分脈衝伏安（DPV） | ● | ● | ||
| 常規脈衝伏安（NPV） | ● | ● | ||
| 差分常規脈衝伏安（DNPV） | ● | ● | ||
| 交流伏安（ACV） | ● | ● | ||
| 二次諧波交流伏安（SHACV） | ● | ● | ||
| 傅裡葉變換交流伏安（FTACV） | ● | ● | ||
| 電流檢測 | 差分脈衝電流檢測（DPA） | ● | ● | |
| 雙差分脈衝電流檢測（DDPA） | ● | ● | ||
| 三脈衝電流檢測（TPA） | ● | ● | ||
| 積分脈衝電流檢測（IPAD） | ● | ● | ||
| 溶出伏安 | 電位溶出分析（PSA） | ● | ● | |
| 線性掃描溶出伏安（LSSV） | ● | ● | ● | |
| 階梯溶出伏安（SCSV） | ● | ● | ||
| 方波溶出伏安（SWSV） | ● | ● | ||
| 差分脈衝溶出伏安（DPSV） | ● | ● | ||
| 常規脈衝溶出伏安（NPSV） | ● | ● | ||
| 差分常規脈衝溶出伏安（DNPSV） | ● | ● | ||
| 交流阻抗 | 頻率掃描-電位控制模式（EIS-V） | ● | ● | |
| 頻率掃描-電流控制模式（EIS-I） | ● | ● | ||
| 電位掃描（IMPE、Mott-Schottky） | ● | ● | ||
| 時間掃描-電位控制模式 | ● | ● | ||
| 時間掃描-電流控制模式 | ● | ● | ||
| 充放電測試 | 電池充放電 | ● | ● | ● |
| 恆電流充放電（GCD） | ● | ● | ● | |
| 恆電位充放電 | ● | ● | ● | |
| 恆電位間歇滴定技術（PITT） | ● | ● | ● | |
| 恆電流間歇滴定技術（GITT） | ● | ● | ● | |
| 雙恆測量 | 氫擴散測試（HDT）* | ● | ● | ● |
| 盤環電極測試 * | ● | ● | ● | |
| 法拉第效率測試 | ● | ● | ● | |
| 擴展測量 | 電化學雜訊（EN） | ● | ● | ● |
| 電偶腐蝕測量（ZRA） | ● | ● | ● | |
| 電化學溶解／沉積 | ● | ● | ● | |
| 控制電位電解庫倫法（BE） | ● | ● | ● | |
| 動電位再活化法（EPR） | ● | ● | ● | |
| 溶液電阻測量 | ● | ● | ● | |
| 迴圈極化曲線（CPP） | ● | ● | ● | |
| 任意恆電位極化 | ● | ● | ● | |
| 腳本化自訂測試 | ● | ● | ● |
* 氫擴散及旋轉盤環電極測試需配置 CS1002 恆電位／恆電流儀，或採用 CS2350M 雙恆電位儀。
* 產品 3 年保固。
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常見問題
CS310M 在台灣哪裡購買?交期多久?
崇浩光電科技為 Corrtest(科思特)台灣代理商,CS310M 的報價、交期與到貨安裝皆可洽詢。請透過聯絡我們頁面提供應用需求(量測方法、電流電位範圍、通道數),我們將協助確認規格與供貨時程。
CS310M 適合哪些量測應用?
單通道電化學工作站,支援 CV、LSV、計時法與 EIS 等常用電化學方法。實際適用範圍請以原廠規格書為準,或提供您的實驗條件由我們協助評估。
CS310M 需要另外搭配哪些配件?
一般電化學量測需搭配三電極系統(工作電極、參比電極、輔助電極)與電解池;崇浩提供 Corrtest 原廠電極與電解池配件,可與主機一併報價。
提供中文技術支援與教育訓練嗎?
崇浩光電提供繁體中文選型諮詢、安裝協助與基礎操作教學;軟體語言與功能細節依原廠版本為準,可於詢價時一併確認。