崇浩光電科技股份有限公司

掃描穿隧顯微鏡實驗

描述

Nanovie STM Educa 為三維表面形貌成像提供了真正的納米分辨率。
三維表面形貌成像。Nanovie STM Educa 不僅在 XY 平面上具有 2 米分辨率,在 Z 方向上具有 1-A 分辨率,而且無需隔振台即可在環境條件下工作,因此適用於基礎研究和教育。
Nanovie STM Educa 已成功應用於台灣大學的基礎物理實驗,並正在向高中推廣。我們的願景是使納米科學教育成為可能,即使是課堂實驗也能獲得以下所有好處:
(1) 開放式結構便於教師說明所應用的理論
(2) 功能強大但界面友好,易於獲得令人滿意的結果
(3) 快速安裝和整理,便於攜帶
14)低電壓驅動,可用於微型筆記本電腦,占地面積小:
自動針尖制造機,可同時生產多個
自動針尖制造機,可同時生產多個 STM 針尖
高溫氧化後石墨表面的孔洞

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