描述
P5.3.4.1 在激光光學底板上安裝米歇爾遜干涉儀
P5.3.4.2 使用米歇爾遜干涉儀測定氦氖激光的光波長
在米歇爾遜干涉儀中，一個光學元件將相干光束分成兩部分。這些組成光束經過不同的路徑，被反射回彼此並最終重新合成。由於兩個組成光束之間具有固定的相位關係，當它們相互重疊時會出現干涉圖樣。改變其中一個組成光束的光程會改變相位關係，從而改變干涉圖樣。因此，在折射率保持不變的情況下，干涉圖樣的變化可用來確定幾何路徑的變化。當幾何路徑不變時，這種配置可用來研究由於壓力、溫度和密度等變化引起的折射率變化。
在實驗 P5.3.4.1 中，米歇爾遜干涉儀組裝在防振的激光光學底板上。這個設置非常適合演示機械衝擊和空氣紋理的影響。
在實驗 P5.3.4.2 中，通過移動干涉儀鏡子來測定氦氖激光的波長 λ。當鏡子移動距離 Δs 時，觀察屏上的干涉條紋會移動。在評估中，計數在鏡子移動時通過屏幕上固定點的干涉極大值或干涉極小值。對於波長 λ，適用以下方程式：
\(\lambda=2 \cdot \frac{\Delta s}{Z}\)
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