GB/T 4948-1985 鋁－鋅－銦系合金犧牲陽極恆電流電化學性能測試方法
GB/T 4948-1985 鋁－鋅－銦系合金犧牲陽極恆電流電化學性能測試方法
GB/T 4950-1985 鋅－鋁－鎘合金犧牲陽極電化學性能測試方法（恆電流法）
GB/T 17848-1999 犧牲陽極電化學性能試驗方法
實驗目的
實驗準備
電化學工作站： CS310X
參比電極： 飽和甘汞電極（SCE）
輔助電極： 不鏽鋼圓筒，內外表面皆為工作面，總面積約 840 cm²
工作電極： 鋁合金，底部直徑 1.6 cm，高 2.8 cm
試驗容器： 壓克力（有機玻璃）電解槽
試驗溶液： 人造海水或潔淨天然海水（海水環境）
試驗步驟
3.1
工作電極以蒸餾水清洗，再以丙酮或無水乙醇去除油污。
3.2
將工作電極置於烘箱中，以 105 °C 烘烤 30 分鐘；取出後置於乾燥器中冷卻。
3.3
工作電極冷卻至室溫後進行第一次稱重；再重複烘烤與稱重程序。
兩次稱重結果差值不得大於 0.4 mg。
取兩次稱重平均值作為工作電極（陽極試樣）初始重量，記為 m1。
3.4
工作電極兩端的非工作面及與銅棒連接的浸水部分需以 703 矽橡膠封裝，使試樣實際工作面積固定為 14 cm²。
3.5
將輔助電極與工作電極固定於距離水面與槽底至少 10 mm 的位置，並使陽極試樣懸掛於陰極環的中心位置。
試驗溶液溫度須控制於 15～30 °C。
3.6
開啟電化學工作站前面板電源，啟動電腦並開啟 CS Studio 測試軟體，確認通訊正常。
3.7
電極接線方式：
綠色夾 → 工作電極（WE）
紅色夾 → 輔助電極（CE）
黃色夾 → 參比電極（RE）
3.8
在軟體功能選單中找到 「犧牲陽極」，並選擇 「新增檢驗」。
3.9
選擇通道，輸入出廠編號，然後點擊 「刷新」 按鈕。
3.10
選擇實驗模式，設定相關參數，輸入樣品初始質量 m1，再點擊 「確定」 按鈕即可開始實驗。
3.11
測試完成後，點擊 「處理資料」 按鈕。
3.12
將工作電極取出，去除 703 矽橡膠，並對陽極試樣表面的腐蝕產物進行化學處理。
處理方法如下表所示：
| 陰極試樣名稱 | 腐蝕產物處理方法 |
|---|---|
| 鋁合金 | 浸入 68% 濃硝酸中 5～10min，用水沖洗 |
| 鋅合金 | 浸入飽和乙酸胺溶液中 2～3h，用毛刷輕輕清除腐蝕產物，完全清除後，用水沖洗 |
| 鎂合金 | 在 60～80℃ 的 20% CrO3 中浸泡 10min（室溫浸泡 30min），用水沖洗 |
3.13
依照 3.2～3.3 的要求，將處理後的工作電極試樣再次進行烘烤與稱重，並記錄質量 m2。
3.14
在「檢驗結果上傳」視窗中輸入溶解狀況與實驗後質量 m2，再點擊「理論電容量」後方的 刷新按鈕，即可生成最終結論。
3.15
按下 「產生原始記錄與報表」，再按下 「上傳原始記錄」。
| 項目 | 規格 |
|---|---|
| 測量通道 | 3 個（同時測量） |
| 通道絕緣電阻 | >100MΩ |
| 通訊方式 | 網口通訊 |
| 恆電位控制範圍 | ±10V |
| 恆電流控制範圍 | ±500mA |
| 電位控制精度 | 0.1%×滿量程讀數±1mV |
| 電流控制精度 | 0.1%×滿量程讀數 |
| 電位靈敏度 | 10mV（>100Hz）、3mV（<10Hz） |
| 電流靈敏度 | <1pA |
| 電位上升時間 | <1mS（<10mA）、<10mS（<2A） |
| 電流量程 | 2A～2nA，共 10 檔 |
| 參比電極輸入阻抗 | 1012Ω‖20pF |
| 最大輸出電流 | 500mA |
| 槽壓輸出 | ±12V |
| 電流掃描增量 | 1mA @1A/mS |
| CV 和 LSV 掃描速度 | 0.001mV～10000V/s |
| 電位掃描電位增量 | 0.076mV @1V/mS |
| CA 和 CC 脈衝寬度 | 0.0001～65000s |
| DPV 和 NPV 脈衝寬度 | 0.0001～1000s |
| SWV 頻率 | 0.001～100KHz |
| CV 的最小電位增量 | 0.075mV |
| AD 資料獲取 | 16bit@1MHz，20bit@1kHz |
| IMP 頻率 | 10mHz～1MHz |
| DA 解析度 | 16bit，建立時間 1mS |
| 電流與電位量程 | 自動設置 |
| 低通濾波器 | 8 段可程式設計 |
| 項目 | 規格 |
|---|---|
| 信號發生器 | |
| 頻率回應 | 10mHz～1MHz |
| 交流信號幅值 | 1mV～2500mV |
| 頻率精確度 | 0.005% |
| 信號解析度 | 0.1mV RMS |
| DDS 輸出阻抗 | 50Ω |
| 直流偏壓 | −10V～+10V |
| 正弦波失真率 | <1% |
| 波形 | 正弦波、三角波、方波 |
| 掃描方式 | 對數／線性，增加／下降 |
| 信號分析器 | |
| 最大積分時間 | 106 個迴圈或者 105S |
| 測量時間延遲 | 0～105S |
| 最小積分時間 | 10mS 或者一個迴圈的最長時間 |
| 直流偏置補償 | |
| 電位補償範圍 | −10V～+10V |
| 電流補償範圍 | −1A～+1A |
| 頻寬調整 | 自動或手動設置，共 8 級可調 |
穩態極化
開路電位量測（OCP）
恆電位極化（i-t 曲線）
恆電流極化
動電位掃描（TAFEL 曲線）
動電流掃描（DGP）
暫態極化
任意恆電位階梯波
任意恆電流階梯波
恆電位階躍（VSTEP）
恆電流階躍（ISTEP）
計時分析
計時電位法（CP）
計時電流法（CA）
計時電量法（CC）
伏安分析
線性掃描伏安法（LSV）
線性循環伏安法（CV）
階梯循環伏安法（SCV）
方波伏安法（SWV）
差分脈衝伏安法（DPV）
常規脈衝伏安法（NPV）
常規差分脈衝伏安法（DNPV）
交流伏安法（ACV）
二次諧波交流伏安（SHACV）
溶出伏安法：恆電位溶出伏安、線性溶出伏安、階梯溶出伏安、方波溶出伏安
電池測量
電池充放電測試
恆電流充放電
交流阻抗功能（EIS）
電化學阻抗（EIS）—頻率掃描
電化學阻抗（EIS）—時間掃描
電化學阻抗（EIS）—電位掃描（Mott-Schottky 曲線）
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