中子散射代測服務|SANS・中子反射・極化中子反射

崇浩光電科技為台灣的研究單位與產業實驗室提供中子散射與中子反射代測服務,測試由匈牙利布達佩斯中子中心(Budapest Neutron Centre, BNC)執行,涵蓋小角度中子散射(SANS)、中子反射(REF)與極化中子反射(GINA);崇浩同時代理匈牙利 Mirrotron Ltd. 的中子光學元件與儀器設備。研究團隊無需自行申請國際設施機時或親赴現場,由崇浩協助溝通量測需求、安排樣品與取得數據。合作單位:布達佩斯中子中心 BNCMirrotron Ltd.

Mirrotron(THE WORLD OF NEUTRON)與布達佩斯中子中心 BNC(Budapest Neutron Centre)合作標誌

歡迎與我們聯絡

我們可針對您的樣品,建議符合你需求的量測方式!

Please do not hesitate to contact us to find out what is the best measurement for your research!

測試單位 : 布達佩斯中子中心 https://www.bnc.hu/

 

為什麼用中子?與 X 光的差異

中子與 X 光探測的物理機制不同:X 光與電子雲作用(對重元素敏感),中子則與原子核作用,因此對氫等輕元素特別敏感,並可利用氫/氘(H/D)同位素標記產生對比。中子穿透力強,適合量測較厚樣品或在特殊環境(溫控、磁場、壓力)下進行原位實驗;中子具磁矩,可探測材料的磁性結構——這是 X 光難以取代的能力。

三種代測技術與適用樣品

崇浩中子代測服務技術對照(測試單位:布達佩斯中子中心 BNC)
技術 量測對象 典型樣品
SANS
小角度中子散射
約 1–100 nm 尺度的結構、尺寸分布與界面 聚合物與嵌段共聚物、膠體與微胞、奈米粒子、生物大分子、孔隙材料、合金中析出相
REF
中子反射
薄膜與多層膜的厚度、散射長度密度與界面粗糙度(深度方向) 高分子薄膜、自組裝單層、固/液界面、電池電極界面、鍍層
GINA
極化中子反射
在 REF 基礎上加入中子極化,解析磁化沿深度的分布 磁性薄膜與多層膜、自旋閥、交換偏壓結構、磁性異質接面

各儀器的實際量測範圍(q 範圍、波長、樣品環境條件)依 BNC 設施規格與檔期而定,歡迎提供樣品資訊由我們協助評估可行性。

Mirrotron 中子光學元件與儀器

Mirrotron Ltd.(匈牙利)以中子超級反射鏡(supermirror)導管技術聞名,產品線涵蓋完整儀器系統、中子傳輸系統、光束整形元件、速度選擇器、斬波器、偏振器系統、探測器、單色器、輻射屏蔽與真空室系統,並提供超級反射鏡鍍膜服務。崇浩光電為台灣代理,協助設施建置與元件選型需求與原廠對接。查看 Mirrotron 產品分類 →

常見問題

台灣的研究團隊要做中子散射實驗,有哪些途徑?

中子散射與反射實驗需要研究用中子源,一般透過國際中子設施進行。除自行申請設施機時外,亦可採用代測服務:由崇浩光電協助溝通量測需求、安排樣品與取得數據,測試由匈牙利布達佩斯中子中心(BNC)執行,團隊無需親赴現場。

布達佩斯中子中心(BNC)是什麼單位?

BNC(Budapest Neutron Centre)是匈牙利的中子研究設施,以布達佩斯研究反應器為中子源,提供小角度中子散射、中子反射、繞射與成像等多種實驗站,長期服務歐洲學術與產業使用者。設施資訊參見 bnc.hu

我的樣品適合 SANS 還是中子反射?

簡單判斷:探討「材料內部」約 1–100 nm 的結構(粒徑、孔隙、相分離)選 SANS;探討「薄膜或界面」沿深度方向的結構(厚度、密度、界面粗糙度)選中子反射;若還要解析磁性沿深度的分布,則選極化中子反射(GINA)。不確定時歡迎提供樣品類型與想解答的問題,由我們協助判斷。

中子實驗對樣品有什麼基本要求?

不同技術的樣品形式與用量差異很大(SANS 常用溶液或塊材、反射量測需平整基板上的薄膜),且需考量樣品是否含強吸收中子的元素、是否需要氘化以提升對比。實際要求依量測技術與 BNC 儀器條件而定,請於洽詢時說明樣品組成與形式,我們會逐案確認。

代測的流程、時程與費用如何?

流程與時程取決於量測技術、樣品數量與設施檔期;費用結構亦依實驗類型與機時需求而異。請透過聯絡我們頁面說明研究目標、樣品資訊與期望完成時間,我們將提供可行方案與報價。

Mirrotron 的超級反射鏡導管是什麼?

中子導管內壁鍍上多層膜「超級反射鏡」,可在較大角度範圍反射中子,把中子從源導引到遠處的實驗站而降低損失,是現代中子設施提高通量的關鍵元件。Mirrotron 以此技術聞名,並提供超級反射鏡鍍膜服務。