CS 電化學工作站採用全浮地式設計，具備優異的穩定性與精確度，搭配先進的硬體與功能完善的軟體，為能源、材料、生命科學與環境保護等領域的科研人員提供理想的研究平台。
① 極化曲線
具備線性極化與 Tafel 極化曲線的測量功能，使用者可自行設定循環極化曲線中的陽極回掃電流（鈍化膜擊穿電流），以判定材料的點蝕電位與保護電位，並評估晶間腐蝕的敏感性。
軟體採用非線性擬合演算法對極化曲線進行解析，適用於材料耐蝕性與緩蝕劑效能的快速評估。
② 伏安分析
可執行多種電分析方法，包括線性掃描伏安（LSV）、循環伏安（CV）、階梯伏安（SCV）、方波伏安（SWV）、差分脈衝伏安（DPV）、交流伏安（ACV）與溶出伏安等，並整合峰面積、峰電流計算與標準曲線分析功能。
③ 電化學噪聲
透過高阻抗跟隨器與零電阻電流計，量測腐蝕系統中自發產生的電位與電流波動，適用於點蝕、電偶腐蝕、縫隙腐蝕及應力腐蝕裂縫等局部腐蝕研究。藉由噪聲頻譜分析，可評估亞穩態蝕點或裂縫的誘發、成長與消失過程。另可依據噪聲電阻與點蝕指數計算，用於局部腐蝕的監測與評估。
④ 全浮地測量
CS 系列電化學工作站採用全浮地式工作電極設計，可用於工作電極本身接地系統中的電化學研究，例如高壓釜中的電化學測試（釜體接地）、或大地中金屬構件（如橋樑、混凝土鋼筋）的線上腐蝕研究等應用。
⑤ 正回授 IR 補償
啟用 IR 補償功能後，電化學工作站會新增一條模擬回授路徑，透過量測電解池電流並啟用正回授補償，硬體電路會加入回授訊號，自動補償 Rs 上的電壓降。
⑥ 自訂量測方法
支援使用者自訂測量流程，可設定定時循環執行單一或多種測試方法的組合測量，適用於無人值守情境下的自動化定時量測。
提供 API 通用介面函式與開發範例，方便使用者進行二次開發與自訂測試方法。
並提供使用者自訂腳本的編寫範例，協助實現獨特的電化學實驗技術。
| 項目 | 規格 |
|---|---|
| 恆電位控制範圍 | ±10V |
| 恆電流控制範圍 | ±2A（可擴展至 20A／40A／100A） |
| 電位控制精度 | 0.1% |
| 電流控制精度 | 0.1% |
| 電位靈敏度 | 1μV |
| 電流靈敏度 | 1pA（可選 100fA） |
| 電位上升時間 | 1μs |
| 電流量程 | 2A～2nA，10 檔 |
| 參比電極輸入阻抗 | 1013Ω‖8pF |
| 最大輸出電流 | ±2A（可擴展至 20A／40A／100A） |
| 槽壓輸出 | ±21V（可選 30V） |
| 電流掃描增量 | 1mA @1A/ms |
| CV 和 LSV 掃描速度 | 0.001mV～10000V/s |
| 電位掃描電位增量 | 0.076mV @1V/ms |
| CA 和 CC 脈衝寬度 | 0.0001～65000s |
| DPV 和 NPV 脈衝寬度 | 0.0001～1000s |
| SWV 頻率 | 0.001～100KHz |
| CV 的最小電位增量 | 0.020mV |
| AD 資料獲取 | 16bit@1MHz，20bit@1KHz |
| 電流與電位量程 | 自動設置 |
| DA 解析度 | 16bit，建立時間 1μs |
| 低通濾波器 | 8 段可程式設計 |
| 通訊介面 | USB2.0、RJ45 網口 |
| 儀器重量 | 7.6Kg |
| 外形尺寸（mm） | 365(W) × 338(D) × 140(H) |
CS300M 支援 56 項電化學方法中的 50 項：涵蓋基礎伏安、極化曲線，以及脈衝伏安、溶出伏安、電流檢測等痕量分析方法，但不含交流阻抗（EIS）；需要 EIS 請選 CS310M（支援 37 項，含 EIS）或 CS350M（支援全部 56 項）。
| 分類 | 功能方法 | CS300M | CS310M | CS350M |
|---|---|---|---|---|
| 穩態極化 | 開路電位（OCP） | ● | ● | ● |
| 恆電位極化（i-t 曲線） | ● | ● | ● | |
| 恆電流極化 | ● | ● | ● | |
| 動電位掃描（Tafel 曲線） | ● | ● | ● | |
| 動電流掃描（DGP） | ● | ● | ● | |
| 電位掃描-階躍 | ● | |||
| 暫態極化 | 任意恆電位階梯波 | ● | ● | ● |
| 任意恆電流階梯波 | ● | ● | ● | |
| 恆電位階躍（VSTEP） | ● | ● | ● | |
| 恆電流階躍（ISTEP） | ● | ● | ● | |
| 計時分析 | 計時電位法（CP） | ● | ● | ● |
| 計時電流法（CA） | ● | ● | ● | |
| 計時庫倫法（CC） | ● | ● | ● | |
| 伏安分析 | 線性掃描伏安（LSV） | ● | ● | ● |
| 迴圈伏安（CV） | ● | ● | ● | |
| 階梯迴圈伏安（SCV） | ● | ● | ||
| 方波伏安（SWV） | ● | ● | ||
| 差分脈衝伏安（DPV） | ● | ● | ||
| 常規脈衝伏安（NPV） | ● | ● | ||
| 差分常規脈衝伏安（DNPV） | ● | ● | ||
| 交流伏安（ACV） | ● | ● | ||
| 二次諧波交流伏安（SHACV） | ● | ● | ||
| 傅裡葉變換交流伏安（FTACV） | ● | ● | ||
| 電流檢測 | 差分脈衝電流檢測（DPA） | ● | ● | |
| 雙差分脈衝電流檢測（DDPA） | ● | ● | ||
| 三脈衝電流檢測（TPA） | ● | ● | ||
| 積分脈衝電流檢測（IPAD） | ● | ● | ||
| 溶出伏安 | 電位溶出分析（PSA） | ● | ● | |
| 線性掃描溶出伏安（LSSV） | ● | ● | ● | |
| 階梯溶出伏安（SCSV） | ● | ● | ||
| 方波溶出伏安（SWSV） | ● | ● | ||
| 差分脈衝溶出伏安（DPSV） | ● | ● | ||
| 常規脈衝溶出伏安（NPSV） | ● | ● | ||
| 差分常規脈衝溶出伏安（DNPSV） | ● | ● | ||
| 交流阻抗 | 頻率掃描-電位控制模式（EIS-V） | ● | ● | |
| 頻率掃描-電流控制模式（EIS-I） | ● | ● | ||
| 電位掃描（IMPE、Mott-Schottky） | ● | ● | ||
| 時間掃描-電位控制模式 | ● | ● | ||
| 時間掃描-電流控制模式 | ● | ● | ||
| 充放電測試 | 電池充放電 | ● | ● | ● |
| 恆電流充放電（GCD） | ● | ● | ● | |
| 恆電位充放電 | ● | ● | ● | |
| 恆電位間歇滴定技術（PITT） | ● | ● | ● | |
| 恆電流間歇滴定技術（GITT） | ● | ● | ● | |
| 雙恆測量 | 氫擴散測試（HDT）* | ● | ● | ● |
| 盤環電極測試 * | ● | ● | ● | |
| 法拉第效率測試 | ● | ● | ● | |
| 擴展測量 | 電化學雜訊（EN） | ● | ● | ● |
| 電偶腐蝕測量（ZRA） | ● | ● | ● | |
| 電化學溶解／沉積 | ● | ● | ● | |
| 控制電位電解庫倫法（BE） | ● | ● | ● | |
| 動電位再活化法（EPR） | ● | ● | ● | |
| 溶液電阻測量 | ● | ● | ● | |
| 迴圈極化曲線（CPP） | ● | ● | ● | |
| 任意恆電位極化 | ● | ● | ● | |
| 腳本化自訂測試 | ● | ● | ● |
* 氫擴散及旋轉盤環電極測試需配置 CS1002 恆電位／恆電流儀，或採用 CS2350M 雙恆電位儀。
* 產品 3 年保固。
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