分類: Corrtest

Corrtest 電化學實驗週邊配件

崇浩光電科技為 Corrtest（科思特儀器）台灣代理，供應下列電化學實驗週邊配件，涵蓋屏蔽箱、電極電纜線、電極拋光材料與電極架，適用於 CS 系列電化學工作站與恆電位／恆電流儀之量測環境建置。

屏蔽箱

尺寸：25*25*30cm

電極電纜線

RE（紅色）接參比電極、CE（黃色）接輔助電極、WE（綠色）接工作電極

電極拋光材料

電極拋光材料：一小瓶 0.05 μm 氧化鋁粉、一小瓶 0.3 μm 氧化鋁粉、一小瓶 1.0 μm 氧化鋁粉；直徑 200 mm 尼龍拋光布 1 張（白色）、直徑 200 mm 絨面拋光布 1 張（咖啡色）、直徑 200 mm 1200 目–4000# 金相砂紙 1 張（灰色）；玻璃板 2 塊。

電極架

電極架：底座及圓盤支架材質為聚四氟乙烯（PTFE）；隨電極架免費附贈 2 個 30 mL 電解杯。

Corrtest 電極

崇浩光電科技為 Corrtest（科思特儀器）台灣代理，供應下列電化學量測用電極，涵蓋參比電極（Ag/AgCl、飽和甘汞、汞／氧化汞）、對電極（鉑片、鉑網、鉑絲、石墨）與工作電極（鉑盤、玻碳、金屬），適用於 CS 系列電化學工作站與恆電位／恆電流儀。

可換片電極夾

汞／氧化汞電極

適用於鹼性溶液，內液為 1M KOH 溶液，側口可用於添加溶液。

非水銀離子電極

鉑金電導電極

鉑金電導電極，用作輔助電極。

鉑片電極

鉑片電極規格：10×10×0.1 mm、10×10×0.2 mm、20×20×0.1 mm、20×20×0.2 mm、20×20×0.3 mm、10×20×0.1 mm、15×15×0.1 mm，皆可客製化。

鉑網電極

尺寸可選：10×10 mm、20×20 mm。

鉑絲電極

鉑絲對極規格：Φ0.5×37 mm、Φ1×37 mm 可選。

石墨電極（PTFE 套管）

石墨直徑 φ2～φ5 mm 可選。

Ag/AgCl 參比電極

銀／氯化銀電極：Φ4 mm（右）、Φ6 mm（左）

金屬工作電極

材料一般為：紫銅、黃銅、碳鋼（Q235）、不鏽鋼（304、316L）等，材質可客製。工作面積為 0.5 平方公分。

鉑盤電極

鉑盤、金盤電極規格：Φ2 mm、Φ3 mm、Φ4 mm、Φ5 mm 可選

鉑盤、金盤工作電極的規格尺寸如下：

玻碳電極

玻碳電極規格：Φ2 mm、Φ3 mm、Φ4 mm、Φ5 mm可選

玻碳電極之規格尺寸如下：

飽和甘汞電極

使用維護及注意事項

電極在使用時，電極上下端的橡皮塞與橡皮帽應拔除，以避免產生擴散電位而影響測試結果。
電極內的鹽橋溶液中不可有氣泡，以防止溶液導通不良；電極內應保留少量結晶體，以確保達到飽和要求。
雙鹽橋式電極使用時，必須拔除橡皮塞與橡皮帽，第二節鹽橋需加入適量惰性電解質溶液後再安裝使用，以確保測試結果的準確性。
當電極外殼上附著鹽橋溶液或結晶體時，應立即清除。

Corrtest 電解池

崇浩光電科技為 Corrtest（科思特儀器）台灣代理，供應下列電化學實驗用電解池與腐蝕測試槽，涵蓋 H 型電解池、雙層／單層平板腐蝕池、塗層評價槽、常規電解槽、密封電解池與四口電解池，適用於 CS 系列電化學工作站之腐蝕、塗層與電合成研究。

H 型電解池

池體容積：50 mL、100 mL、150 mL、200 mL、250 mL 蓋子材質：聚四氟乙烯（PTFE）兩池中間由離子膜隔離（隔膜需用戶自備），離子膜可快速更換。用於陰、陽極電解液不同或不宜混合的密封式電化學實驗，中間需使用隔膜（如 Nafion 膜等）進行隔離，以避免相互干擾。

雙層平板腐蝕池

電極配套：以氯化銀電極作為參比電極，輔助電極（對電極）為 20×20 mm白金網電極。

單層平板腐蝕池

電極配套：氯化銀電極作為參比電極，輔助電極（對電極）為 20×20 mm 鉑網電極；容積：250 mL；工作面積：1 cm²。內置彎折式 Luggin 毛細管，緊鄰工作電極表面，確保腐蝕實驗中參比電極與工作電極之間的距離符合要求。

塗層評價槽

規格：容積 10 mL，工作電極面積：1 cm²

常規電解槽

池體容積（mL）：10～500 mL，不含圖片所示電極。玻璃池體，聚四氟乙烯（PTFE）上蓋。

密封電解池

50 mL、100 mL、150 mL、250 mL 容積可選，不含圖中所示電極。聚四氟乙烯（PTFE）上蓋開有 5 個孔，分別為：進氣孔、排氣孔、工作電極孔、參比電極孔、輔助電極孔。可依使用者的三電極類型與尺寸客製孔徑大小。

四口電解池

電解池（含鹽橋與排氣管）規格：150 mL、250 mL、500 mL、1000 mL 配件包含：進氣管、排氣管、魯金毛細管。

CS400Z電化學腐蝕摩擦磨損試驗儀

針對材料表面及薄膜在不同載荷、不同轉速下，於腐蝕液體中以旋轉方式運動時的摩擦性能與耐磨強度進行定量評價。內建 CS 電化學工作站，可針對材料表面及薄膜在不同載荷、不同轉速條件下，於腐蝕液體中以旋轉運動方式進行摩擦性能與耐磨強度的定量評價。主要用於模擬海水、江湖河水及人體體液等環境中的腐蝕摩擦狀態。

產品介紹

CS400Z 電化學腐蝕摩擦磨損試驗儀內建 CS 電化學工作站，可針對材料表面及薄膜在不同載荷、不同轉速條件下，於腐蝕液體中以旋轉運動方式進行摩擦性能與耐磨強度的定量評價。主要用於模擬海水、江湖河水以及人體體液等環境中的腐蝕摩擦狀態。

CS400Z 電化學腐蝕摩擦磨損試驗儀採用球－盤摩擦原理並結合微電腦自動控制技術，透過砝碼或連續加載機構將負載施加於磨球，使其作用於試樣表面。同時，試樣固定於測試平台上，並以設定轉速旋轉，使磨球與塗層表面產生摩擦。摩擦過程中由感測器擷取摩擦力訊號，經放大處理後輸入電腦，並經 A/D 轉換與軟體運算後，得到摩擦係數的變化曲線。

$μ = N/ F$

μ — 摩擦係數

F — 摩擦力

N — 正向壓力（載荷）

試樣置於樣品槽中，透過工作電極與參比電極可量測摩擦過程中材料的電化學腐蝕行為變化。透過摩擦係數曲線的變化，可判斷材料或薄膜的摩擦性能與耐磨強度；在特定載荷下，當摩擦係數隨時間（或距離）出現變化，即表示薄膜已被磨損。此時可透過稱重法取得材料表面的磨損量，以進一步進行定量評估。

儀器主要技術指標

加載方式：砝碼加載
載荷範圍：10 g～2000 g
精度：0.1 g
平台轉速：0.01 rpm ～ 3000 rpm
精度：±1 rpm
升降高度：20 mm
旋轉半徑：3 mm～20 mm
電化學模組：一套由聚四氟乙烯（PTFE）或尼龍材質製成的旋轉式電化學耐腐蝕測試槽，包含電極夾持組件及電化學工作站連接介面。

硬體參數規格

恆電位控制範圍：±10V
摩擦腐蝕電位控制精度：0.1%×滿量程讀值 ±1mV
摩擦腐蝕電位靈敏度：10mV（>100Hz）、3mV（<10Hz）
摩擦腐蝕電位上升時間：<1ms（<10mA）、<10ms（<2A）
參比電極輸入阻抗：10¹²Ω || 20pF
槽壓輸出：±21V

摩擦 CV / LSV 掃描速率：0.001mV～10000V/s
摩擦 CA / CC 脈衝寬度：0.0001～65000s
摩擦 SWV 頻率：0.001～100KHz

A/D 數據擷取：16bit@1MHz、20bit@1kHz
D/A 分辨率：16bit，建立時間 1ms
通訊介面：USB 2.0

恆電流控制範圍：±2.0A
摩擦腐蚀電流控制精度：0.1%×滿量程讀值
摩擦腐蚀電流靈敏度：<10pA
摩擦腐蚀電流量程：2A～200nA，共 8 檔
最大輸出電流：2.0A
摩擦腐蚀電流掃描增量：1mA@1A/ms
摩擦腐蚀電位掃描增量：0.076mV@1V/ms

摩擦 DPV／NPV 脈衝寬度：0.0001～1000s
摩擦 CV 最小電位增量：0.075mV
電流／電位量程切換：自動切換
低通濾波器：8 段可程式設定

訊號產生器

頻率響應範圍：10mHz～500KHz
頻率精確度：0.005%
DDS 輸出阻抗：50Ω
正弦波失真度：<1%
掃描模式：對數／線性、升／降掃描

訊號分析器

最大積分時間：10⁶ 次循環或 10⁵ 秒
最小積分時間：10ms 或一個循環的最長時間

直流偏壓補償

電位補償範圍：-10V～+10V
帶寬設定：自動或手動，共 8 段可調

摩擦副及夾具

摩擦副夾具尺寸：φ3mm、φ4mm、φ5mm、φ6mm
摩擦球材質：

- GCr15 鋼球
- Al₂O₃（氧化鋁）陶瓷球
- ZrO₂（氧化鋯）陶瓷球
- Si₃N₄（氮化矽）陶瓷球

操作與資料處理

操作方式：鍵盤操作、電腦控制
資料處理：提供載荷曲線線性校正，輸出 Access／Excel 資料庫、Word 測試報告、Jpeg 圖檔

CS400Z 選型諮詢與報價

崇浩光電為 Corrtest 台灣代理,提供繁體中文選型建議、報價與在地技術支援。

洽詢 CS400Z 規格與報價 →

常見問題

CS400Z 在台灣哪裡購買?交期多久?

崇浩光電科技為 Corrtest(科思特)台灣代理商,CS400Z 的報價、交期與到貨安裝皆可洽詢。請透過聯絡我們頁面提供應用需求(量測方法、電流電位範圍、通道數),我們將協助確認規格與供貨時程。

CS400Z 適合哪些量測應用?

旋轉式運動評價材料在腐蝕液中的摩擦與耐磨性能。實際適用範圍請以原廠規格書為準,或提供您的實驗條件由我們協助評估。

CS400Z 需要另外搭配哪些配件?

一般電化學量測需搭配三電極系統(工作電極、參比電極、輔助電極)與電解池;崇浩提供 Corrtest 原廠電極與電解池配件,可與主機一併報價。

提供中文技術支援與教育訓練嗎?

崇浩光電提供繁體中文選型諮詢、安裝協助與基礎操作教學;軟體語言與功能細節依原廠版本為準,可於詢價時一併確認。

Corrtest 儀器設備

CS300W電化學腐蝕摩擦磨損試驗儀

針對材料表面及薄膜在腐蝕液體環境中，以高速往復運動方式進行摩擦性能與耐磨強度的定量評價。

運用球－盤摩擦原理及微電腦自動控制技術，將砝碼或可變載荷機構施加於磨球上；材料試樣隨試驗平台依偏心輪機構，以設定之頻率實現摩擦副的高速往復運動。系統透過感測器擷取摩擦過程中的摩擦力訊號，經放大處理後輸入電腦，並由 A/D 轉換器將摩擦力訊號轉換為數位資訊，再經軟體運算後得到摩擦係數曲線。

產品介紹

CS300W 電化學腐蝕摩擦磨損試驗儀內建 CS 電化學工作站，可在不同載荷、不同頻率、不同溫度及不同氣氛條件下，對材料表面及薄膜在腐蝕液體中以高速往復運動方式進行摩擦性能與耐磨強度的定量評價。主要用於模擬海水、江湖河水以及人體體液等環境中的腐蝕摩擦狀態。

以下是為了能夠滿足段落所需的長度而定義的無意義內文，請自行參酌編排。

CS300W 電化學腐蝕摩擦磨損試驗儀採用球－盤摩擦原理結合微電腦自動控制技術。系統可將砝碼或可變載荷機構施加於磨球上，試樣則利用偏心輪機構隨試驗台以設定頻率進行高速往復運動。

摩擦過程中由感測器擷取摩擦力訊號，經放大處理後輸入電腦，再由 A/D 轉換器將訊號數位化，最終透過軟體運算得出摩擦係數曲線。

μ = F / N
μ — 摩擦係數
F — 摩擦力
N — 正向壓力（載荷）

樣品置於樣品槽中，透過工作電極（下摩擦副接觸電極）與參比電極，可量測摩擦過程中材料的電化學腐蝕行為變化。

透過摩擦係數曲線的變化，可判斷材料或薄膜的摩擦性能與耐磨強度，即在特定載荷下，摩擦係數於經過一定時間（或摩擦距離）後出現變化，代表薄膜已被磨損；此時可再以稱重法取得材料表面的磨損量。

可控氣氛組件可經由真空幫浦抽除腔體內空氣，再導入實驗所需氣氛（如氮氣、氦氣等），使樣品可在不同氣氛環境下進行測試。

磨損量檢測組件則可藉由量測磨損深度，直接計算磨痕的截面面積。

儀器主要技術指標

加載方式
砝碼加載
自動加載：恆定加載、交變加載（正弦波、三角波、梯度加載）
加載範圍：1～300 N
加載檢測精度：0.5 N（砝碼加載精度：±0.5 mN）
摩擦力檢測精度：0.5 N
往復次數：不限
往復頻率：0.001～20 Hz
升降高度：25 mm
行程：0.5～30 mm
電化學腐蝕摩擦副夾具：Φ3 mm、Φ4 mm、Φ5 mm、Φ6 mm
電化學腐蝕摩擦副材質：GCr15 軸承鋼球、Al₂O₃ 陶瓷球、ZrO₂ 陶瓷球、Si₃N₄ 陶瓷球
電化學腐蝕組件台架
電化學腐蝕組件介面
測試操作：鍵盤操作, 微機控制（PC 控制）
資料處理：Word 實驗報告、Jpeg 影像輸出

電化學摩擦腐蝕硬體參數指標

電位控制

恆電位控制範圍：±10 V

電位控制精度：0.1% × 滿量程讀值 ± 1 mV

電位靈敏度：10 mV（>100 Hz）、3 mV（<10 Hz）

電位上升時間：<1 ms（<10 mA）、<10 ms（<2 A）

參比電極輸入阻抗：10¹² Ω || 20 pF

槽壓輸出：±21 V

電位掃描

CV／LSV 掃描速度：0.001 mV～10000 V/s

CA／CC 脈衝寬度：0.0001～65000 s

SWV 頻率：0.001～100 kHz

最小 CV 電位增量：0.075 mV

電位掃描增量：0.076 mV @ 1 V/ms

電流控制

恆電流控制範圍：±2.0 A

電流控制精度：0.1% × 滿量程讀值

電流靈敏度：<10 pA

電流量程：2 A～200 nA，共 8 檔

最大輸出電流：2.0 A

電流掃描增量：1 mA @ 1 A/ms

脈衝分析

DPV／NPV 脈衝寬度：0.0001～1000 s

資料擷取與輸出

AD 採樣：16 bit @ 1 MHz、20 bit @ 1 kHz

DA 分辨率：16 bit，建立時間 1 ms

通訊介面：USB 2.0

量程設定：電位／電流自動切換

低通濾波器：8 段可編程

電化學阻抗（EIS）量測指標
信號發生器（FRA）

頻率範圍：10 mHz～500 kHz

頻率精確度：0.005%

DDS 輸出阻抗：50 Ω

正弦波失真率：<1%

掃描模式：對數／線性（升／降）

信號分析器

最大積分時間：10⁶ 個循環或 10⁵ s

最小積分時間：10 ms 或單循環最大時間

直流偏置補償範圍：-10 V～+10 V

帶寬調整：自動或手動（共 8 段）

功能與方法

儀器主要配置
(1) 儀器主機： 1 台
(2) 生物腐蝕摩擦電化學工作站： 1 套
(3) 工控電腦： 1 台
　　— 工控機箱
　　— 工控主機板
　　— 工控底板
　　— 記憶體：4 GB
　　— 硬碟：500 GB
(4) 顯示器： 19 吋液晶寬螢幕 1 台
(5) 配件：
　　— 工具 1 套（內六角扳手、螺絲起子、校準支架）
　　— M1 等級標準砝碼 1 套：1000 g、500 g、100 g、50 g、10 g 各 1 顆；200 g、20 g 各 2 顆
　　— 使用說明書 1 本
　　— 軟體光碟 1 張
選購
(1) 試驗載荷：5 g～10 g
(2) 試樣移動速度：1 mm/s～4 mm/s
(3) 量測範圍：2 μm～200 μm
(4) 試樣厚度：1 mm～10 mm 片材
(5) 解析度：±0.02 μm
(6) 壓頭：金剛石，錐角 90°，半徑 0.1 mm
(7) 磨損率計算：磨痕截面積（mm²）／（磨損體積／牛·分鐘, 可控壓力範圍：常壓～ -0.08 MPa

CS300W 選型諮詢與報價

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常見問題

CS300W 在台灣哪裡購買?交期多久?

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CS300W 適合哪些量測應用?

往復式運動評價材料在腐蝕液中的摩擦與耐磨性能。實際適用範圍請以原廠規格書為準,或提供您的實驗條件由我們協助評估。

CS300W 需要另外搭配哪些配件?

一般電化學量測需搭配三電極系統(工作電極、參比電極、輔助電極)與電解池;崇浩提供 Corrtest 原廠電極與電解池配件,可與主機一併報價。

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Corrtest 儀器設備

CS310X多通道犧牲陽極測試儀

GB/T 4948-1985　鋁－鋅－銦系合金犧牲陽極恆電流電化學性能測試方法

適用標準

GB/T 4948-1985　鋁－鋅－銦系合金犧牲陽極恆電流電化學性能測試方法
GB/T 4950-1985　鋅－鋁－鎘合金犧牲陽極電化學性能測試方法（恆電流法）
GB/T 17848-1999　犧牲陽極電化學性能試驗方法

犧牲陽極電化學性能試驗

實驗目的

本實驗適用於測試鋁合金犧牲陽極在海水環境中的電化學性能。

實驗準備

電化學工作站： CS310X
參比電極：飽和甘汞電極（SCE）
輔助電極：不鏽鋼圓筒，內外表面皆為工作面，總面積約 840 cm²
工作電極：鋁合金，底部直徑 1.6 cm，高 2.8 cm
試驗容器：壓克力（有機玻璃）電解槽
試驗溶液：人造海水或潔淨天然海水（海水環境）

試驗步驟

3.1
工作電極以蒸餾水清洗，再以丙酮或無水乙醇去除油污。

3.2
將工作電極置於烘箱中，以 105 °C 烘烤 30 分鐘；取出後置於乾燥器中冷卻。

3.3
工作電極冷卻至室溫後進行第一次稱重；再重複烘烤與稱重程序。
兩次稱重結果差值不得大於 0.4 mg。
取兩次稱重平均值作為工作電極（陽極試樣）初始重量，記為 m1。

3.4
工作電極兩端的非工作面及與銅棒連接的浸水部分需以 703 矽橡膠封裝，使試樣實際工作面積固定為 14 cm²。

3.5
將輔助電極與工作電極固定於距離水面與槽底至少 10 mm 的位置，並使陽極試樣懸掛於陰極環的中心位置。
試驗溶液溫度須控制於 15～30 °C。

3.6
開啟電化學工作站前面板電源，啟動電腦並開啟 CS Studio 測試軟體，確認通訊正常。

3.7
電極接線方式：

- 綠色夾 → 工作電極（WE）
- 紅色夾 → 輔助電極（CE）
- 黃色夾 → 參比電極（RE）

3.8

在軟體功能選單中找到「犧牲陽極」，並選擇「新增檢驗」。

3.9

選擇通道，輸入出廠編號，然後點擊「刷新」按鈕。

3.10

選擇實驗模式，設定相關參數，輸入樣品初始質量 m1，再點擊「確定」按鈕即可開始實驗。

3.11

測試完成後，點擊「處理資料」按鈕。

3.12

將工作電極取出，去除 703 矽橡膠，並對陽極試樣表面的腐蝕產物進行化學處理。
處理方法如下表所示：

陰極試樣腐蝕產物處理方法
陰極試樣名稱	腐蝕產物處理方法
鋁合金	浸入 68% 濃硝酸中 5～10min，用水沖洗
鋅合金	浸入飽和乙酸胺溶液中 2～3h，用毛刷輕輕清除腐蝕產物，完全清除後，用水沖洗
鎂合金	在 60～80℃ 的 20% CrO₃ 中浸泡 10min（室溫浸泡 30min），用水沖洗

3.13
依照 3.2～3.3 的要求，將處理後的工作電極試樣再次進行烘烤與稱重，並記錄質量 m2。

3.14
在「檢驗結果上傳」視窗中輸入溶解狀況與實驗後質量 m2，再點擊「理論電容量」後方的刷新按鈕，即可生成最終結論。

3.15
按下「產生原始記錄與報表」，再按下「上傳原始記錄」。

技術指標

CS310X 多通道犧牲陽極測試儀硬體參數指標
項目	規格
測量通道	3 個（同時測量）
通道絕緣電阻	>100MΩ
通訊方式	網口通訊
恆電位控制範圍	±10V
恆電流控制範圍	±500mA
電位控制精度	0.1%×滿量程讀數±1mV
電流控制精度	0.1%×滿量程讀數
電位靈敏度	10mV（>100Hz）、3mV（<10Hz）
電流靈敏度	<1pA
電位上升時間	<1mS（<10mA）、<10mS（<2A）
電流量程	2A～2nA，共 10 檔
參比電極輸入阻抗	10¹²Ω‖20pF
最大輸出電流	500mA
槽壓輸出	±12V
電流掃描增量	1mA @1A/mS
CV 和 LSV 掃描速度	0.001mV～10000V/s
電位掃描電位增量	0.076mV @1V/mS
CA 和 CC 脈衝寬度	0.0001～65000s
DPV 和 NPV 脈衝寬度	0.0001～1000s
SWV 頻率	0.001～100KHz
CV 的最小電位增量	0.075mV
AD 資料獲取	16bit@1MHz，20bit@1kHz
IMP 頻率	10mHz～1MHz
DA 解析度	16bit，建立時間 1mS
電流與電位量程	自動設置
低通濾波器	8 段可程式設計

CS310X 多通道犧牲陽極測試儀電化學阻抗（EIS）量測指標
項目	規格
信號發生器
頻率回應	10mHz～1MHz
交流信號幅值	1mV～2500mV
頻率精確度	0.005%
信號解析度	0.1mV RMS
DDS 輸出阻抗	50Ω
直流偏壓	−10V～+10V
正弦波失真率	<1%
波形	正弦波、三角波、方波
掃描方式	對數／線性，增加／下降
信號分析器
最大積分時間	10⁶ 個迴圈或者 10⁵S
測量時間延遲	0～10⁵S
最小積分時間	10mS 或者一個迴圈的最長時間
直流偏置補償
電位補償範圍	−10V～+10V
電流補償範圍	−1A～+1A
頻寬調整	自動或手動設置，共 8 級可調

儀器配置

多通道電化學工作站 CS3003　1 台
配套軟體 CS Studio　1 套
專用電解槽　3 套
輔助陰極　3 套
飽和甘汞電極　3 支
矽橡膠　6 支
模擬電解槽　3 個
220V 電源線　1 條
網路通訊線　1 條
電極電纜線 1.2 m　3 條
選配：電腦
選配：烘箱
選配：天平

功能與方法

穩態極化

開路電位量測（OCP）
恆電位極化（i-t 曲線）
恆電流極化
動電位掃描（TAFEL 曲線）
動電流掃描（DGP）

暫態極化

任意恆電位階梯波
任意恆電流階梯波
恆電位階躍（VSTEP）
恆電流階躍（ISTEP）

計時分析

計時電位法（CP）
計時電流法（CA）
計時電量法（CC）

伏安分析

線性掃描伏安法（LSV）
線性循環伏安法（CV）
階梯循環伏安法（SCV）
方波伏安法（SWV）
差分脈衝伏安法（DPV）
常規脈衝伏安法（NPV）
常規差分脈衝伏安法（DNPV）
交流伏安法（ACV）
二次諧波交流伏安（SHACV）
溶出伏安法：恆電位溶出伏安、線性溶出伏安、階梯溶出伏安、方波溶出伏安

電池測量

電池充放電測試
恆電流充放電

交流阻抗功能（EIS）

電化學阻抗（EIS）—頻率掃描
電化學阻抗（EIS）—時間掃描
電化學阻抗（EIS）—電位掃描（Mott-Schottky 曲線）

CS310X 多通道犧牲陽極測試儀選型諮詢與報價

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常見問題

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依犧牲陽極電化學性能測試標準設計的多通道測試儀。實際適用範圍請以原廠規格書為準,或提供您的實驗條件由我們協助評估。

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一般電化學量測需搭配三電極系統(工作電極、參比電極、輔助電極)與電解池;崇浩提供 Corrtest 原廠電極與電解池配件,可與主機一併報價。

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Corrtest 儀器設備

CS300M點蝕電位測試儀

適用於各類國際、國家及行業標準的點蝕電位量測。

適用標準

國際標準

中國 GB 4334.9-84　不鏽鋼點蝕電位測量方法
美國 ASTM G61-1986（2014）鐵、鎳或鈷基合金局部腐蝕敏感性的循環動電位極化量測之標準試驗方法
日本 JIS G0577-1981　不鏽鋼點蝕電位測定方法

國家標準

GB/T 17899-1999　不鏽鋼點蝕電位測量方法
GB/T 18590-2001　金屬和合金腐蚀——點蝕評定方法
GB/T 32550-2016　金屬和合金腐蚀——恆電位控制下臨界點蝕溫度（CPT）之測定

行業標準

YY/T 1074-2002　外科植入物——不鏽鋼製品點蝕電位
YY/T 0149-2006　不鏽鋼醫用器械耐蝕性試驗方法
YY/T 0695-2008　小型植入器械腐蝕敏感性的循環動電位極化標準測試方法

硬體參數指標

CS300M 點蝕電位測試儀硬體參數指標
項目	規格
恆電位控制範圍	±10V
恆電流控制範圍	±2.0A
電位控制精度	0.1%×滿量程讀數±1mV
電流控制精度	0.1%×滿量程讀數
電位靈敏度	10μV（>100Hz）、3μV（<10Hz）
電流靈敏度	1pA
電位上升時間	<1μS（<10mA）、<10μS（<2A）
電流量程	2nA～2A，共 10 檔
參比電極輸入阻抗	10¹²Ω‖20pF
最大輸出電流	2.0A
槽壓輸出	±21V（可擴展至 ±200V）
電流掃描增量	1mA @1A/mS
CV 和 LSV 掃描速度	0.001mV～10000V/s
電位掃描電位增量	0.076mV @1V/mS
CA 和 CC 脈衝寬度	0.0001～65000s
DPV 和 NPV 脈衝寬度	0.0001～1000s
SWV 頻率	0.001～100KHz
CV 的最小電位增量	0.075mV
AD 資料獲取	16bit@1MHz，20bit@1KHz
電流與電位量程	自動設置
DA 解析度	16bit，建立時間 1μS
低通濾波器	8 段可程式設計
通訊介面	USB2.0
儀器重量	6.5Kg
外形尺寸（cm）	36.5(W) × 30.5(D) × 16(H)

儀器配置

儀器主機 1 台
CS Studio 測試與分析軟體 1 套
電源線／USB 資料線各 1 條
電極電纜線（含噪聲量測線）1 條
模擬電解槽 1 個（儀器自我檢測用）
點蝕電位測試配件 1 套；選配：電解槽 1 套、參比電極 1 支、鉑金輔助電極 1 支
選配：水浴鍋
選配：電腦

功能與方法

穩態極化：

開路電位量測（OCP）
恆電位極化（I-t 曲線）
恆電流極化
動電位掃描（TAFEL 曲線）
動電流掃描（DGP）

計時分析：

計時電位（CP）
計時電流（CA）
計時電量（CC）

暫態極化：

任意恆電位階梯波
任意恆電流階梯波
多電位階躍（VSTEP）
多電流階躍（ISTEP）

伏安分析：

線性掃描伏安法（LSV）
循環伏安法（CV）
方波伏安法（SWV）
溶出伏安（DPV）

腐蝕測量：

動電位再活化法（EPR）
電化學噪聲（EN）
電偶腐蝕量測（ZRA）
晶間腐蝕

電池測試：

電池充放電測試
恆電流充放電

擴展量測：

圓盤電極測試

CS300M 點蝕電位測試儀選型諮詢與報價

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CS300M 點蝕電位測試儀適合哪些量測應用?

依循點蝕電位與循環動電位極化標準方法的專用測試儀。實際適用範圍請以原廠規格書為準,或提供您的實驗條件由我們協助評估。

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一般電化學量測需搭配三電極系統(工作電極、參比電極、輔助電極)與電解池;崇浩提供 Corrtest 原廠電極與電解池配件,可與主機一併報價。

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Corrtest 儀器設備

CST520陣列電極電化學掃描儀

陣列電極量測是指將彼此絕緣的金屬絲陣列以有序且緊密的方式排列，用以模擬整個金屬表面的多電極技術。透過循環掃描陣列電極表面的電位與電流分佈，可用於表徵裸露金屬或塗層下金屬表面的局部腐蝕行為。

新一代 CST520 陣列電極電化學掃描系統由陣列電極擴展模組與電化學測試模組兩部分組成，不僅可量測任一單電極的電極電位與短路原電池電流，也能量測每一根單電極的交流阻抗與極化曲線資料，極大地提升了材料耐蝕性評估的手段與深度。

產品介紹

1.陣列電極簡介

陣列電極量測是將彼此絕緣的金屬絲以有序且緊密的方式排列，用來模擬整個金屬表面的多電極技術。透過循環掃描陣列電極表面的電位與電流分佈，可用於表徵裸露金屬或塗層下金屬表面的局部腐蝕分布特性，以及非均勻電化學溶解過程。

CST520 陣列電極電化學掃描系統可精準量測任一單電極的電極電位與短路原電池電流，且不需擔心外加極化會破壞微區腐蝕環境，因此特別適合用於金屬在非擾動狀態下的自發腐蝕行為研究。

2.工作原理

新一代 CST520 陣列電極電化學掃描系統由陣列電極擴展模組與電化學測試模組兩部分組成。不僅能量測任一單電極的電極電位與短路原電池電流，也能測量每一根單電極的交流阻抗及極化曲線資料，極大地提升材料耐蝕性的評估手段。

陣列電極擴展模組主要由 RS485 通訊電路、IO 擴展電路、10×10 繼電器矩陣電路、MCU 電路等組成。

系統預留兩組擴展板卡介面，最多可支援 300 通道陣列電極切換，切換速度最高可達 100 Hz。標準版本配置 100 通道。陣列電極透過兩組 DB50 介面輸入，電化學工作站與本儀器之間透過 DB9 連接器連接，並使用 RS485 通訊，通訊速率為 115200 bps。

電化學測試模組除了用於陣列電極的量測外，亦可作為獨立的電化學工作站使用，具備完整的腐蝕測試功能，包括：開路電位（OCP）、極化曲線（Tafel）、線性極化（LPR）、交流阻抗（EIS）、Mott–Schottky 曲線（M-S）、電化學噪聲（EN），功能完整。

3.電位與電流掃描圖

CST520 陣列電極電化學掃描系統可執行 電位與電流的循環面掃描，或 單電極電位與電流的時間掃描。系統可即時顯示陣列電極表面的電位與電流分佈圖，並可匯出至 Origin 以三維圖形方式呈現陣列電極表面的電位與電流分布狀態。

如圖 2 所示：圖 2 左為電位分佈圖，圖 2 右為電流分佈圖。可觀察到 WBE 電極表面有三個區域呈現較負的電位，並且在電流分佈圖中，相同位置亦出現負電流。負電流代表陽極電流，說明電極表面這三個區域發生了更加嚴重的腐蝕反應。

技術參數

電位量測範圍：±10V、±5V、±2.5V
電位控制精度：0.1%
恆電流控制範圍：±2A
電流控制精度：0.1%
電流量程：2A ～ 2nA，共 10 檔；最大輸出電流：2A
通道切換速率：100Hz
擴展模組介面：RS485，115200bps
供電電壓：AC 220V

儀器配置

CST520 陣列電極電化學掃描系統主機 1 台
CS5000X 陣列電極擴展器 1 台
擴展電極線 3 條（WE、SE、AGND〔WE99〕）
CST520 參比電極輸入線 1 條
CST520 輔助電極輸入線 1 條
DB9 通訊線 1 條
Q235 碳鋼 10×10 陣列電極 1 支
220V 電源線 2 條
USB 資料線 1 條
電極電纜線 1 條
模擬電解槽 1 個

功能與方法

絲束電極測試：

絲束電極掃描
電偶腐蝕量測

電化學腐蝕測試：

開路電位（OCP）測試
動電位掃描
恆電位測試
恆電流測試
電化學阻抗 — 電位控制模式（EIS-V）
電化學阻抗 — 電位掃描（M-S 曲線）
電化學噪聲（EN）
動電位再活化（EPR）
循環極化曲線（CPP）
溶液電阻測試（IR）
線性極化曲線（LPR）

CST520 選型諮詢與報價

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CST520 在台灣哪裡購買?交期多久?

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CST520 適合哪些量測應用?

陣列電極模組結合電化學測試,量測單電極電位、電流與阻抗。實際適用範圍請以原廠規格書為準,或提供您的實驗條件由我們協助評估。

CST520 需要另外搭配哪些配件?

一般電化學量測需搭配三電極系統(工作電極、參比電極、輔助電極)與電解池;崇浩提供 Corrtest 原廠電極與電解池配件,可與主機一併報價。

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Corrtest 儀器設備

CS1008 多通道恆電位／恆電流儀

八個通道可獨立運作，使用者可依實驗需求自由選擇各通道的啟動或停止量測。

測量通道數：8
槽壓範圍：±15V
電位控制範圍：±10V
電位控制精度：1mV
參比電極輸入阻抗：10¹³Ω
電流量測範圍：±2nA～20mA
電流解析度：＜1pA

產品介紹

CS1008 八通道恆電位／恆電流儀專門用於多組樣品的恆電位極化、恆電流極化及開路電位量測。八個通道皆可獨立運作，使用者可依實驗需求自由選擇各通道啟動或停止量測，但八個通道需執行相同類型的測試，例如全為恆電流極化、恆電位極化或開路電位量測。CS1008 各通道之量測參數可自由設定：恆電流極化可設定電流大小與極化時間；恆電位極化可設定電位大小與極化時間。進行恆電流或恆電位輸出時，每個通道均可自動匹配合適的電位與電流量程。CS1008 面板配置液晶螢幕，可同步顯示所有通道的即時電位與電流數據，方便使用者掌握量測情況。

主要技術指標

CS1008 多通道恆電位／恆電流儀主要技術指標
項目	規格
測量通道數	8
槽壓範圍	±15V
電位控制範圍	+/−10V
電位控制精度	1mV
參比電極輸入阻抗	10¹³Ω
電流測量範圍	±2nA～20mA
電流解析度	<1pA
輸入偏置電流	<10pA
電流控制精度	0.1%×滿量程讀數

儀器配置

電極電纜線 8 條
電源線 1 條
網路線1條

功能與方法

開路電位
恆電位極化
恆電流極化

CS1008 選型諮詢與報價

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CS1008 適合哪些量測應用?

八通道獨立恆電位／恆電流儀,適用多組樣品同時極化。實際適用範圍請以原廠規格書為準,或提供您的實驗條件由我們協助評估。

CS1008 需要另外搭配哪些配件?

一般電化學量測需搭配三電極系統(工作電極、參比電極、輔助電極)與電解池;崇浩提供 Corrtest 原廠電極與電解池配件,可與主機一併報價。

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Corrtest 儀器設備

Corrtest-CS1002 恆電位／恆電流儀

CS1002 恆電位／恆電流儀

可廣泛應用於電極反應動力學、化學電池、電鍍、金屬腐蝕、電化學分析以及有機電化學合成等相關研究；也可作為獨立電流源，搭配 CS 電化學工作站進行特殊體系的實驗（如氫擴散測試等）。

操作便利，儀器由上位機軟體控制，可即時顯示並記錄測試結果。
安裝簡易，採用 USB 介面與電腦通訊，設備設定快速方便。
槽壓範圍：±12.5V
電位控制範圍：±10V、±2.5V，共 2 檔
電位控制精度：0.1%
電流量測範圍：±2nA ～ ±200mA，共 9 檔

產品介紹

CS1002 恆電位／恆電流儀可實現二電極與三電極體系的恆電位／恆電流持續輸出，以及開路電位量測功能，具備優異的穩定性與精確度。可廣泛應用於電極反應動力學、化學電池、電鍍、金屬腐蝕、電化學分析以及有機電化學合成等研究領域；亦可作為獨立電流源，搭配 CS 電化學工作站進行特殊體系實驗（如氫擴散測試等）。

主要技術指標

CS1002 恆電位／恆電流儀主要技術指標
項目	規格
電位控制範圍	±10V、±2.5V，共 2 檔
槽壓範圍	±12.5V
恆電流控制範圍	±2nA～±200mA，共 9 檔
電位控制精度	0.1%
電流控制精度	20mA～200mA 檔：0.5%；2mA～2uA 檔：0.1%；200nA～2nA 檔：1%；槽壓：±12.5V
電流測量範圍	±2nA～20mA
電源	交流 220V／50Hz±10%
功耗	<30W

軟體功能

CS1002 專用軟體為恆電位／恆電流儀之配套控制程式，支援 Windows 10 作業系統，可完整控制儀器、設定量測參數並啟動量測。其主要用途在於透過電腦快速設定測量條件，並以圖形方式即時顯示量測資料。軟體透過 USB 介面與電腦通訊，安裝簡單、操作方便。

儀器配置

CS1002 儀器主機 1 台
儀器配套測試軟體 1 套
電源線 1 條
電極電纜線 1 條
USB 資料線 1 條

功能與方法

恆電位極化
恆電流極化
開路電位

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CS1002 適合哪些量測應用?

二／三電極恆電位、恆電流輸出與開路電位量測。實際適用範圍請以原廠規格書為準,或提供您的實驗條件由我們協助評估。

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